這個(gè)說法是正確的。
Glenford J.Myers曾對(duì)軟件測(cè)試的目的提出過以下觀點(diǎn)：
(1)測(cè)試是為了發(fā)現(xiàn)程序中的錯(cuò)誤而執(zhí)行程序的過程。
(2)好的測(cè)試方案是極可能發(fā)現(xiàn)迄今為止尚未發(fā)現(xiàn)的錯(cuò)誤的測(cè)試方案。
(3)成功的測(cè)試是發(fā)現(xiàn)了至今為止尚未發(fā)現(xiàn)的錯(cuò)誤的測(cè)試。
(4)測(cè)試并不僅僅是為了找出錯(cuò)誤。通過分析錯(cuò)誤產(chǎn)生的原因和錯(cuò)誤的發(fā)生趨勢(shì)，可以幫助項(xiàng)目管理者發(fā)現(xiàn)當(dāng)前軟件開發(fā)過程中的缺陷，以便及時(shí)改進(jìn)。
(5)這種分析也能幫助測(cè)試人員設(shè)計(jì)出有針對(duì)性的測(cè)試方法，改善測(cè)試的效率和有效性。
(6)沒有發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤的測(cè)試也是有價(jià)值的，完整的測(cè)試是評(píng)定軟件質(zhì)量的一種方法。
(7)另外，根據(jù)測(cè)試目的的不同，還有回歸測(cè)試、壓力測(cè)試、性能測(cè)試等，分別為了檢驗(yàn)修改或優(yōu)化過程是否引發(fā)新的問題、軟件所能達(dá)到處理能力和是否達(dá)到預(yù)期的處理能力等。